美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪 快特能™ RD 1000(Criterion™1000) - 连云港金升科技有限公司
产品资料

美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪

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产品名称: 美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪
产品型号: 快特能™ RD 1000(Criterion™1000)
产品展商: 其它品牌
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简单介绍

美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪快特能™ RD 1000(Criterion™1000)美国激光技术公司(Laser Technology, Inc.)*新推出的 快特能™ RD 1000,是靠前获得砖利的电子测树器,能准确测量树的直径,利用内置的垂直角传感器能够准确地采集到树干任何部位的直径,并能够采集到某预定直径在树干上的高度。


美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪  的详细介绍
美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪
简单介绍
激光测树器快特能™ RD 1000|激光测树仪行货优供快特能™ RD 1000(Criterion™1000)是世界上 首款**测量树林面积和树木直径的电子测量仪器

美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪激光测树器快特能™ RD 1000|激光测树仪行货优供的详细介绍

激光测树器快特能™ RD 1000|激光测树仪行货优供快特能™ RD 1000(Criterion™1000)测树器 首款**测量树林面积和树木直径的电子测量仪器

快特能™ RD 1000(Criterion™1000)是世界上 首款**测量树林面积和树木直径的电子测量仪器

 
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快特能™ RD 1000(Criterion™1000)测树器

 

快特能™ RD 1000(Criterion™1000)测树器激光测树器快特能™ RD 1000|激光测树仪行货优供详细描述

美国激光技术公司(Laser Technology, Inc.)*新推出的 快特能™ RD 1000,是靠前获得砖利的电子测树器,能准确测量树的直径,利用内置的垂直角传感器能够准确地采集到树干任何部位的直径,并能够采集到某预定直径在树干上的高度。
     内置的 Basal Area Factor (BAF) 软件能够解决树林采样程序中所遇到的困难。通过利用LTI激光测距仪的测量距离或键盘输入的数据能够轻松地解决树木的界定问题,从而避免了恶劣的地形和茂密杂树丛的阻碍,从而使采样工作变得更得心应手。您可以无惧地形恶劣等因素,随时随地读出的准确数据。内嵌的LED发光二极管能调节亮度,使您能够在昏暗光线下也能准确地读取数据。  


美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪 规格说明:
 
§     尺寸: 7cm x 5cm x 16.5 cm (2.75" x 2" x 6.5")

§     重量: 500 g

§     数据传输: RS232

§     电源3.0 v直流电源, 或者AA电池

§     环境要求:防水防尘NEMA 3, IP 64

§      温度: -30°C~+60ºC

§      放大倍率: 光学镜:常规1倍; 放大2.4倍

§      显示:外置液晶显示屏 和内置发光二级管

§       单位: 英制和公制

       安放:单脚架/双脚架 (1⁄4" - 20) 

 测量量程:
 
§      直径: 5cm ~254 cm

§      BAF可调范围: (0.2 ~ 39.0 M2/公顷)

       垂直角:+/- 90 度 

 精度:
 
§     直径精度: 6mm/24m

       垂直度精度:+/- 0.1º 

 操作模式:
 
§     系统: 固定参数设置

§      BAF模式

                 用途:单位面积林分胸高总横断面积测量

                 优点:BAF参数灵活可调(0.3-29.1平方米/公顷),适合各种胸径水平的林分测量;坡度自动校正,精度可达0.1deg。

§       In / Out模式

                 用途:解决BAF模式测量过程中的“边界树”问题

                美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪 优点:内置程序根据测到的胸径和水平距离自动给出该株树是否应计数,显示状态值(IN或OUT)。免去手工计算或查表,准确高效。

§      直径模式 

                 美国树林面积测量仪|树林直径测树器|树木测角仪 用途:测量单株树木任意高度位置的直径并且显示所在位置的相对高度

       高差 / 直径:
        用途:设定某一直径值,测量所能达到该直径值的树木相对高度位置

 
 
以上技术参数均在典型环境下测试
 
 


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